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X射线光电子能谱仪检定方法

国家标准
标准编号:GB/T 25184-2010 标准状态:现行
标准价格:49.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了X射线光电子能谱仪的检定方法。本标准适用于使用非单色化Al或MgX射线或单色化AlX射线,且带有溅射清洁用离子枪的X射线光电子能谱仪的检定。
英文名称:  Verification method for X-ray photoelectron spectrometers
什么是中标分类? 中标分类:  化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法
什么是ICS分类?  ICS分类:  化工技术>>分析化学>>71.040.40化学分析
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2010-09-26
实施日期:  2011-08-01
首发日期:  2010-09-26
提出单位:  全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
什么是归口单位? 归口单位:  全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
主管部门:  全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会
起草单位:  福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室
起草人:  王水菊、时海燕、丁训民
页数:  28页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2011-08-01
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前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会表面分析分委员会归口。
本标准负责起草单位:福建光电有限公司、厦门大学固体表面物理化学国家重点实验室。
本标准主要起草人:王水菊、时海燕、丁训民。
目录
前言 Ⅰ
1 范围 1
2 规范性引用文件 1
3 符号和缩略语 1
4 方法原理与系统构成 3
5 计量单位与技术指标 4
6 检定环境 5
7 检定项目与方法 5
8 报告检定结果 22
9 检定周期 22
引用标准
下列文件对于本文件的应用是必不可少的,凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用本文件。
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