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多道分析器 第1部分:技术要求与试验方法

国家标准
标准编号:GB/T 4833.1-2007 标准状态:现行
标准价格:76.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本部分规定了多道脉冲幅度分析器的主要性能、技术要求和参数的测试方法,还给出了多道分析器的名词和定义。
英文名称:  Multichannel analyzers—Part 1: Main technical requirements and test methods
什么是替代情况? 替代情况:  替代GB/T 4833-1997
什么是中标分类? 中标分类:  能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F81通用核仪器
什么是ICS分类?  ICS分类:  能源和热传导工程>>核能工程>>27.120.99有关核能的其他标
什么是采标情况? 采标情况:  MOD IEC 61342:1995
发布部门:  中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:  2007-10-17
实施日期:  2008-03-01
首发日期:  1984-12-27
提出单位:  全国核仪器仪表标准化技术委员会
什么是归口单位? 归口单位:  核工业标准化研究所
主管部门:  国防科学技术工业委员会
起草单位:  核工业标准化研究所、清华大学、中国原子能科学研究院
起草人:  王经谨、熊正隆、潘大金、刘以农、肖晨
计划单号:  20060858-T-307
页数:  48页
出版社:  中国标准出版社
出版日期:  2008-03-01
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前言
GB/T4833《多道分析器》分为三个部分:
---第1部分:主要技术要求与试验方法;
---第2部分:作为多路定标器的试验方法;
---第3部分:核谱测量直方图数据交换格式。
本部分为GB/T4833的第1部分。
本部分修改采用IEC61342:1995《核仪器 多道脉冲幅度分析器 主要性能、技术要求和试验方法》,但对其进行了若干增删修改(详见附录G):
a) 补充了一些定义、符号和缩略语,按表述的合理性对个别章条作了调整;
b) 增加了图12,并在图6和图7增加了实测谱的曲线;
c) 增加了多道分析器的基本性能,调整了技术指标,修改了分类方法;
d) 在一些参数测量中,本部分增加了我国已采用的、经过实践证明既简便可行又普遍适用的一些试验方法,修改或删除了某些辅助试验方法和重复条款。
本部分代替GB/T4833-1997《多道脉冲幅度分析器 主要性能、技术要求和试验方法》(以下简称原标准)。
本部分对原标准的主要修改为:
---按GB/T1.2-2002《标准化工作导则 第2 部分:标准中规范性技术要素的确定方法》的要求,修改了本部分的名称;
---增加谱存储量、谱仪模拟数字变换器和ADC 分辨率三个术语以及相关的符号;
---增加谱存储量、拒绝堆积(反堆积)功能等基本性能;
---增加计数率变化引起的道址相对漂移的测量及其附录F;
---增加图12计数率引起的道址相对漂移的试验框图;并在图6用于确定微分非线性的谱形状和图7测量积分非线性时的误差函数犈(犿)增加了实测谱的曲线;
---将多道分析器按用途分类改为按使用要求(例如,所配探测器的类型、现场使用条件)分成1~4类,并修改、调整表A.1中的内容和指标,以反映多道分析器的技术进步;
---按GB/T1.1-2000《标准化工作导则 第1部分:标准的结构和编写规则》的要求,修改了本部分的格式(包括给悬置段加标题,在列项前加总括语等),统一、规范了表述形式;
---将本部分与IEC61342的差别全部综合到附录G(包括章条结构的对照),并调整附录G 的顺序。
本部分的附录A、附录B、附录C、附录D、附录E、附录G 是资料性附录,附录F是规范性附录。
本部分由全国核仪器仪表标准化技术委员会提出。
本部分由核工业标准化研究所归口。
本部分起草单位:核工业标准化研究所、清华大学、中国原子能科学研究院。
本部分主要起草人:王经谨、熊正隆、潘大金、刘以农、肖晨。
本部分所代替标准的历次版本发布的情况为:GB 4833-1984、GB 4833-1989、GB/T4833-1997。
目录
前言Ⅲ
引言Ⅳ
1 范围1
2 规范性引用文件1
3 术语和定义1
4 符号和缩略语5
5 主要技术要求7
5.1 基本性能7
5.2 技术指标8
6 试验要求8
6.1 试验仪器8
6.2 预热8
6.3 试验条件9
6.4 附加误差的试验9
7 试验方法9
7.1 最小和最大可测信号脉冲幅度9
7.2 道宽(变换系数) 11
7.3 零点13
7.4 积分非线性14
7.5 微分非线性15
7.6 道轮廓的非矩形系数(选测) 17
7.7 死时间18
7.8 最高可测脉冲频率19
7.9 死时间计数损失的校正误差(选测) 20
7.10 系统通过能力(选测) 20
7.11 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率的变化21
附录A (资料性附录) 多道分析器的性能参数和技术指标---多道分析器选择指南28
附录B (资料性附录) 峰位(模态道)的计算30
附录C (资料性附录) 测量局部微分非线性的补充方法31
附录D (资料性附录) _崥羅Ч__t微分非线性的快速检测法32
附录E (资料性附录) 平均死时间辅助试验方法33
附录F (规范性附录) 计数率变化引起的道址相对漂移34
附录G (资料性附录) 本部分与IEC61342的关系36
图1 测量多道分析器的最小可测脉冲幅度和最大可测脉冲幅度的方框图22
图2 测量多道分析器的道宽、零点和积分非线性的方框图22
图3 零点、偏置和幅度拟合直线23
图4 测量局部微分非线性的滑移脉冲幅度随时间变化图23
图5 多道分析器微分非线性试验设备框图24
图6 用于确定微分非线性的谱形状24
图7 测量积分非线性时的误差函数犈(犿) 25
图8 测量多道分析器微分非线性的闪烁计数法25
图9 测量死时间的框图26
图10 测量最高可测脉冲频率的框图26
图11 试验死时间校正误差的框图27
图12 计数率引起的道址相对漂移和能量分辨率变化的试验框图27
表1 多道分析器的基本性能7
表A.1 性能参数和技术指标28
引用标准
下列文件中的条款通过GB/T4833的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
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