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半导体红外发光二极管测试方法 正向压降测试方法

标准
标准编号:SJ 2658.2-1986 标准状态:已作废
标准价格:8.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
标准状态:  已作废
什么是替代情况? 替代情况:  SJ/T 2658.2-2015代替
什么是中标分类? 中标分类:  电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L53半导体发光器件
实施日期:  1986-10-01
作废日期:  2016-04-01
页数:  4页
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