实验二极管结构与工艺 |
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| 标准编号：SJ 1381-1978 |
标准状态：已废止 |
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| 标准价格：18.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了板耗不大于5W、嵌缝结构、旁热式阴极，平板型实验二极管的结构、工艺和实验方法。只要用于鉴定阴极材料及工艺对发射性能的寿命的影响。 |
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| 英文名称： |
Structure and technology of test diode |
| 标准状态： |
已废止 |
 中标分类： |
电子元器件与信息技术>>半导体分立器件>>L41半导体二极管 |
| 发布部门： |
中华人民共和国第四机械工业部 |
| 发布日期： |
1979-07-01 |
| 实施日期： |
1979-07-01
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| 作废日期： |
2010-01-20
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| 页数： |
37页 |
| 出版社： |
中国电子工业出版社 |
| 标准前页： |
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