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半导体器件键合丝表面质量检查方法

标准
标准编号:SJ/T 10705-1996 标准状态:已废止
标准价格:15.0 客户评分:星星星星1
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标准简介
本标准规定了半导体器件键合丝表面质量检验方法。
本标准适用于各种键合丝表面质量的检验。
英文名称:  Standard practice for inspection of surface quality of semiconductor lead-bonding wire
标准状态:  已废止
什么是中标分类? 中标分类:  能源、核技术>>能源、核技术综合>>F01技术管理
什么是采标情况? 采标情况:  ASTM F584-87(93) NEQ
发布部门:  中华人民共和国电子工业部
发布日期:  1996-07-22
实施日期:  1996-11-01
作废日期:  2010-01-20
提出单位:  电子工业部标准化研究所
什么是归口单位? 归口单位:  电子工业部标准化研究所
起草单位:  电子工业部第四十六研究所
起草人:  齐芸馨、姜春香、段曙光
页数:  10页
出版社:  电子工业部标准化研究
出版日期:  1996-10-01
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